Studien- und Bachelor-Arbeiten

Verzerrungsmessungen von hochauflösenden Sigma-Delta-Analog-Digital-Wandlern

Verfasser

Tanner Reto

Themengebiet

Mikroelektronik

Studiengang

Elektrotechnik

Examinator/in

Prof. Dr. Teddy Loeliger

Experte/in

Aschwanden, Felix
Laboratories Thomson Multimedia Ltd. Zürich

Erstellungsjahr

2007

Typ

Diplomarbeit

 

Abstract 90 KB

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